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影響涂層測厚儀測量值精度的因素

 更新時(shí)間:2017-02-20 點(diǎn)擊量:2498

影響涂層測厚儀測量值精度的因素: 
a 基體金屬磁性質(zhì) 
  磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。 
 b 基體金屬電性質(zhì) 
  基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。 
c 基體金屬厚度 
  每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。 
d 邊緣效應 
  本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。 
e 曲率 
  試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。 
f 試件的變形 
  測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。 
g 表面粗糙度 
  基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時(shí),在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點(diǎn)。 
h 附著(zhù)物質(zhì) 
  本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感,因此,必須清除附著(zhù)物質(zhì),以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。 
i 測頭壓力 
  測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數,因此,要保持壓力恒定。 
j 測頭的取向 
  測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,應當使測頭與試樣表面保持垂直。

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